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| 課程資訊 (Course Information) | 科號
Course Number | 10410MS 502100 | 學分
Credit | 3 | 人數限制
Size of Limit | 40 | 中文名稱
Course Title | 電子顯微鏡學 | 英文名稱
Course English Title | Transmission Electron Microscopy | 任課教師
Instructor | 張守一(CHANG, SHOU-YI)
| 上課時間
Time | T3T4R3R4
| 上課教室
Room | DELTA台達B09 |
| 課程大綱 (Syllabus) | 一、課程說明 (Course Description)
本課程分為電子顯微鏡基本認識、繞射原理及成像分析等三部分，基本認識部分講述電子顯微鏡發展與應
用、電子束作用原理與訊號來源、儀器結構與試片製備以及基本成像原理與像差等基礎內容，繞射原理部
分則深入介紹繞射與倒晶格、單次繞射理論、繞射圖案與菊池圖案以及多次繞射理論等複雜學理，而成像
分析部分則講述繞射對比與顯微成像、相對比與高解析成像、掃描式電子顯微鏡及能譜分析等分析機制。
課程目標在於建立電子顯微鏡基本知識，分析解決研究過程面臨之微結構與晶體結構分析問題，並與理論
機制結合。
二、指定用書 (Text Books)
(1) 陳力俊等, “材料電子顯微鏡學”, 科儀叢書, 科技部精密儀器發展中心, 1990.
(2) D. B. Williams & C. B. Carter, “Transmission Electron Microscopy”, 2nd Edition,
Springer, New York, NY, 2009
三、參考書籍 (References)
四、教學方式 (Teaching Method)
課堂講授為主 (投影片+黑板書寫)，另安排教學助理時間講解習題及問題。
五、教學進度 (Syllabus)
01 History/Development and Applications
02 Electron/Matter Interaction and Information
03 The Instrument and Specimens
04 Imaging/Contrast and Aberrations
05 Diffraction and Reciprocal Space I
06 Diffraction and Reciprocal Space II
07 Kinematical Diffraction of Electrons I
08 Kinematical Diffraction of Electrons II
09 Midterm Examination
10 Diffraction Patterns and Kikuchi Patterns I
11 Diffraction Patterns and Kikuchi Patterns II
12 Dynamic Scattering of Electron Diffraction
13 Diffraction Contrast and Microstructure Imaging I
14 Diffraction Contrast and Microstructure Imaging II
15 Phase Contrast and High-Resolution Imaging
16 Scanning Electron Microscope
17 Spectrometry – XEDS & EELS
18 Final Examination
六、成績考核 (Evaluation)
期中考試 40%、平時作業+小考 20%、期末考試 40%。
七、可連結之網頁位址
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