委託服務項目
[分析]可變角度光譜式橢圓儀(J.A. Woollam Co. V-VASE)
編號 | 13 |
位置 | 材料科技館 R332-1室 |
用途 | 藉由搭建光學模型並對量測結果進行擬合,可解析出薄膜的厚度及其光學常數(折射率、消光係數)。 VASE相較於單一角度,單一波長度量測,可大幅提升光學模型對量測結果擬合。 |
管理者 | 陳建宇 |
管理者Email | jc18715@gmail.com |
分機電話 | 33837 |
設備說明 | 可變角度光譜式橢圓儀 |