委託服務項目
[分析]場發射掃描式電子顯微鏡(JEOL JSM-6500F)(FESEM)
編號 | 4 |
位置 | 材料科技館117-B室 |
用途 | FESEM相較傳統SEM,在光源和透鏡系統的改良,可有更佳的表面形貌影像分辨率,加上EDS及CL等附件可作微區成份分佈和陰極螢光光譜的分析。 |
管理者 | 蕭仲軒同學 |
管理者Email | emailev01@gmail.com |
分機電話 | 33829 |
設備說明 | 場發射掃描式電子顯微鏡 |