儀器設備
分析式穿透式電子顯微鏡 (AEM/EDS 2010)
| 編號 | 5 |
| 位置 | 材料科技館 R113 |
| 用途 | 1、一般TEM明、暗視野像，High Resolution Image高解析成像能力HRTEM mode可達0.1nm，STEM mode可達0.12nm。 2、高解析掃描穿透明、暗視野像(HR STEM BF and DF)。 3、nano-beam Diffraction微區繞射分析 > 1nm 。 4、CBED(Convergent Beam Electron Diffraction)收斂電子束繞射圓盤強度分佈，可分析獲得微觀結構三度空間資料。 5、EDS能量分散光譜儀可提供微區分析中化學元素的定性及半定量及化學元素mapping/linescan分析。 6、EELS電子能量損失光譜分析儀可提供微區分析中輕元素，化學鍵結等更正確的相關資料，Energy resolution可達1ev 。 |
| 管理者 | 黃鈺昇 |
| 管理者Email | samxgoodguy@hotmail.com |
| 分機電話 | 03-5715131#33824 |